English

Siatki i siatki celownicze

  • Płyta z precyzyjnymi szczelinami powlekana chromem

    Płyta z precyzyjnymi szczelinami powlekana chromem

    Tworzywo:B270i

    Proces:Podwójne powierzchnie polerowane,

            Jedna powierzchnia pokryta chromem, dwie powierzchnie pokryte powłoką AR

    Jakość powierzchni:20-10 w obszarze wzoru

                      40-20 w obszarze zewnętrznym

                     Brak dziurek w powłoce chromowanej

    Równoległość:<30″

    Ścięcie:<0,3*45°

    Powłoka chromowana:T<0,5% przy 420-680 nm

    Linie są przezroczyste

    Grubość linii:0,005 mm

    Długość linii:8mm ±0,002

    Odstęp między liniami: 0,1 mm±0,002

    Podwójna powierzchnia AR:T>99% przy 600-650nm

    Aplikacja:Projektory wzorów LED

    zapytanieszczegół
  • Podświetlana siatka celownicza do lunet celowniczych

    Podświetlana siatka celownicza do lunet celowniczych

    Podłoże:B270 / N-BK7 / H-K9L / H-K51
    Tolerancja wymiarowa:-0,1 mm
    Tolerancja grubości:±0,05 mm
    Płaskość powierzchni:2(1)@632,8 nm
    Jakość powierzchni:20/10
    Szerokość linii:minimalnie 0,003 mm
    Krawędzie:Szlif, maks. 0,3 mm. Pełna szerokość ścięcia
    Wyczyść przysłonę:90%
    Równoległość:<5”
    Powłoka:Wysoka gęstość optyczna, nieprzezroczysty chrom, Tabs <0,01% @Widzialna długość fali
    Obszar przezroczysty, AR: R<0,35%@Widzialna długość fali
    Proces:Szkło trawione i wypełniane krzemianem sodu i dwutlenkiem tytanu

    zapytanieszczegół
  • Precyzyjna szczelina optyczna – chrom na szkle

    Precyzyjna szczelina optyczna – chrom na szkle

    Podłoże:B270
    Tolerancja wymiarowa:-0,1 mm
    Tolerancja grubości:±0,05 mm
    Płaskość powierzchni:3(1)@632,8nm
    Jakość powierzchni:40/20
    Szerokość linii:0,1 mm i 0,05 mm
    Krawędzie:Szlif, maks. 0,3 mm. Pełna szerokość ścięcia
    Wyczyść przysłonę:90%
    Równoległość:<5”
    Powłoka:Wysoka gęstość optyczna, nieprzezroczysty chrom, Tabs <0,01% @Widzialna długość fali

    zapytanieszczegół
  • Skale kalibracyjne mikrometrów stołowych

    Skale kalibracyjne mikrometrów stołowych

    Podłoże:B270
    Tolerancja wymiarowa:-0,1 mm
    Tolerancja grubości:±0,05 mm
    Płaskość powierzchni:3(1)@632,8nm
    Jakość powierzchni:40/20
    Szerokość linii:0,1 mm i 0,05 mm
    Krawędzie:Szlif, maks. 0,3 mm. Pełna szerokość ścięcia
    Wyczyść przysłonę:90%
    Równoległość:<5”
    Powłoka:Wysoka gęstość optyczna, nieprzezroczysty chrom, Tabs <0,01% @Widzialna długość fali
    Obszar przezroczysty, AR: R<0,35%@Widzialna długość fali

    zapytanieszczegół
  • Precyzyjne siatki celownicze – chrom na szkle

    Precyzyjne siatki celownicze – chrom na szkle

    Podłoże:B270 /N-BK7 / H-K9L
    Tolerancja wymiarowa:-0,1 mm
    Tolerancja grubości:±0,05 mm
    Płaskość powierzchni:3(1)@632,8nm
    Jakość powierzchni:20/10
    Szerokość linii:Minimum 0,003 mm
    Krawędzie:Szlif, maks. 0,3 mm. Pełna szerokość ścięcia
    Wyczyść przysłonę:90%
    Równoległość:<30”
    Powłoka:Pojedyncza warstwa MgF2, Ravg<1,5%@Projektowana długość fali

    Linia/Kropka/Figura: Cr lub Cr2O3

     

    zapytanieszczegół