English

Siatki i siatki

  • Płyta z precyzyjnymi nacięciami powlekana chromem

    Płyta z precyzyjnymi nacięciami powlekana chromem

    Tworzywo:B270i

    Proces:Podwójne powierzchnie polerowane,

            Jedna powierzchnia chromowana, podwójna powłoka AR

    Jakość powierzchni:20-10 w obszarze wzoru

                      40-20 na zewnątrz

                     Brak dziur w powłoce chromowanej

    Równoległość:<30″

    Ścięcie:<0,3*45°

    Powłoka chromowana:T<0,5% przy 420-680 nm

    Linie są przezroczyste

    Grubość linii:0,005 mm

    Długość linii:8mm ±0,002

    Odstęp linii: 0,1 mm±0,002

    Podwójna powierzchnia AR:T> 99% przy 600-650 nm

    Aplikacja:Projektory LED

    zapytanieszczegół
  • Podświetlana siatka celownicza do lunet celowniczych

    Podświetlana siatka celownicza do lunet celowniczych

    Podłoże:B270 / N-BK7 / H-K9L / H-K51
    Tolerancja wymiarowa:-0,1 mm
    Tolerancja grubości:±0,05 mm
    Płaskość powierzchni:2(1) przy 632,8 nm
    Jakość powierzchni:20/10
    Szerokość linii:minimalna 0,003 mm
    Krawędzie:Uziemienie, maks. 0,3 mm Skos na całej szerokości
    Wyczyść przysłonę:90%
    Równoległość:<5”
    Powłoka:Nieprzezroczysty chrom o wysokiej gęstości optycznej, tabulatory <0,01% przy widzialnej długości fali
    Obszar przezroczysty, AR: R<0,35% przy widzialnej długości fali
    Proces:Szkło trawione i wypełnione krzemianem sodu i dwutlenkiem tytanu

    zapytanieszczegół
  • Precyzyjna szczelina optyczna – Chrome na szkle

    Precyzyjna szczelina optyczna – Chrome na szkle

    Podłoże:B270
    Tolerancja wymiarowa:-0,1 mm
    Tolerancja grubości:±0,05 mm
    Płaskość powierzchni:3(1) przy 632,8 nm
    Jakość powierzchni:40/20
    Szerokość linii:0,1 mm i 0,05 mm
    Krawędzie:Uziemienie, maks. 0,3 mm Skos na całej szerokości
    Wyczyść przysłonę:90%
    Równoległość:<5”
    Powłoka:Nieprzezroczysty chrom o wysokiej gęstości optycznej, tabulatory <0,01% przy widzialnej długości fali

    zapytanieszczegół
  • Siatki kalibracyjne mikrometrów stolikowych

    Siatki kalibracyjne mikrometrów stolikowych

    Podłoże:B270
    Tolerancja wymiarowa:-0,1 mm
    Tolerancja grubości:±0,05 mm
    Płaskość powierzchni:3(1) przy 632,8 nm
    Jakość powierzchni:40/20
    Szerokość linii:0,1 mm i 0,05 mm
    Krawędzie:Uziemienie, maks. 0,3 mm Skos na całej szerokości
    Wyczyść przysłonę:90%
    Równoległość:<5”
    Powłoka:Nieprzezroczysty chrom o wysokiej gęstości optycznej, tabulatory <0,01% przy widzialnej długości fali
    Obszar przezroczysty, AR: R<0,35% przy widzialnej długości fali

    zapytanieszczegół
  • Precyzyjne siatki celownicze – chrom na szkle

    Precyzyjne siatki celownicze – chrom na szkle

    Podłoże:B270 /N-BK7 / H-K9L
    Tolerancja wymiarowa:-0,1 mm
    Tolerancja grubości:±0,05 mm
    Płaskość powierzchni:3(1) przy 632,8 nm
    Jakość powierzchni:20/10
    Szerokość linii:Minimalna 0,003 mm
    Krawędzie:Uziemienie, maks. 0,3 mm Skos na całej szerokości
    Wyczyść przysłonę:90%
    Równoległość:<30”
    Powłoka:Jednowarstwowa MgF2, Ravg<1,5% przy projektowej długości fali

    Linia/kropka/rysunek: Cr lub Cr2O3

     

    zapytanieszczegół